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【91视频官网APP】FH801銀漿高度測試儀

品牌:POWEREACH
名稱:銀漿高度測試儀
型號:FH801
FH801型芯片銀漿厚度測量儀,標配不含配套電腦,含儀器主機、實驗操作軟件、標配組件、大陸地區免費上門安裝調試培訓、一年保修服務,含稅運,軟件終身免費升級。

FH801型芯片銀漿厚度測量儀必須有配套電腦方能使用,可選擇由供方提供配套電腦,DELL電腦原廠三年上門保修。如用戶自配或利用原有電腦,要求一個USB2.0接口。
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產品特點

91视频官网APPFH801銀漿高度測試儀是半導體銀漿Silver Paste高度專用測量儀器,也可稱為銀漿厚度測試儀、芯片die銀漿厚度測量儀、視頻銀漿厚度量測儀等。

在半導體芯片加工中,需要對芯片DIE中的晶圓wafer進行銀漿固定,這就需要對這個固定工藝進行測量,以判斷銀漿的高度或厚度是否達到指定的技術指標。此儀器是專為此工藝開發的測量儀器,通過顯微鏡非接觸圖像識別的方式測量,配上專用電腦軟件,用戶能夠非常方便的測量此工藝的技術指標。

此外,此儀器還可以應用到其他的場合,比如PCB加工、金屬加工、材料加工等。


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產品參數

FH801型芯片銀漿厚度測量儀技術指標:
序號 項目 技術指標
1 測量方式 非接觸圖像識別測量
2 測量範圍 10um—1mm(可定製其他範圍)
3 測量精度等級 ±1%(根據選擇的放大倍數和用戶拍攝圖像清晰度有關)
4 易用性 用戶非常方便操作測量,可以打印、保存測試結果,可導出EXCEL格式
5 顯微鏡工業相機像素 130萬像素全彩色(可定製更高像素)
6 圖像分辯率 1024x768(默認),最大1280x1024
7 圖像刷新率 12幀/秒
8 連續變倍 0.7-4.5變倍(整體倍數1~50倍)
9 測量角度 默認45度,可定製0-90度
10 光源 前置落射光源,可定製激光靶點定位
11 位置調整 XY雙軸平台,底盤為360度旋轉平台,可定製帶吸盤
12 產品編號輸入 手工輸入或者條形碼(選配)
13 通訊接口 USB口
14 通信距離 USB延長線5米
15 工作電壓 DC12V/1A
16 工作溫度 室溫
17 工作濕度 5%-90%
18 儀器尺寸 400mm×450mm×600mm(長×寬×高)

注:以上參數僅供參考,本公司可能對相關產品參數進行調整,如有變動,恕不再另行通知。若有不明處,歡迎來電詢問。
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工作原理

FH801型芯片銀漿厚度測量儀主要性能:
直徑200mm-400mm的不鏽鋼或鋁合金樣品平台;360°水平旋轉平台;USB製式高級CCD及變焦光學係統;CCD45°角定位的光路係統。


通過顯微鏡非接觸圖像識別的方式測量,配上專用電腦軟件,用戶能夠非常方便的測量此銀漿固定工藝的技術指標。
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應用領域

FH801型芯片銀漿厚度測量儀應用領域:

主要用於半導體銀漿Silver Paste高度的測量
此外,在
PCB加工、金屬加工、材料加工等方麵也有應用。
快速反應,專業配合,精心打造服務生態鏈
1年質保,終身維護,提供配套服務
承諾到達現場的時限:昆山4小時,蘇州8小時,江浙滬24小時,其他區域48小時
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榮譽資質

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